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JSM-IT810場發射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結合多功能性和高空間分辨率，實現了自動化操作。內置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外...

JSM-IT710HR 熱場發射掃描電子顯微鏡 清晰的可見性促進新發現！目前，除了納米級的分辨率和分析性能外，數據采集的處理能力也被認為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕...

JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM”，只需選好微區就能自動觀察和分析。JSM-IT210 掃...

JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復執行相同的觀察操作，因此快速完成這...

JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價格不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復執行相同的觀察操作，因此快速完成這些...

JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。　 利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更...

隨著先進材料構造的微細化和制造過程的復雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統JIB-4700F。

JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經聚焦照射樣品后，能對樣品表面進行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜...

JXA-iHP200F 場發射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更先進的一體化集成FE-EPMA。

IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。...

IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。

EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6&...